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测试前不校准,真实结果知多少?

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发表于 2020-5-29 15:36:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
作者 | 刘丽娟(一博科技高速先生团队队员)
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7 l1 v& H% {( ], @- M) H' v/ p& y
+ n; Z+ x% G4 a( r上上周我们在B站放了关于矢网为什么要校准,以及校准实操步骤的视频。
- a$ n4 o9 s; r# |" E7 V- N
- R. z8 H- r* e. }" k5 q4 K有同学在反问我:那我不校准能咋地?看你操作半天,好浪费时间,就不校就不校……( s* P7 W5 v% D0 S$ ^5 B

/ P( T! A; E  i- |对于这么傲娇的人,已经不能单纯地以理论说服他了,先直接简单粗暴地把测试结果丢出来。) c( Q6 B4 s3 S. R1 a
* e* J: ]5 l/ x7 u2 o8 b4 H; p
矢网(VNA)看家本领是测S参数,那我们就先来看看对于同一个DUT,做完校准测出来S参数结果是什么样的?而如果不做校准,测出来的S参数又是什么样的,和真实结果能有多大差异?& c$ t. a" C* M, Q% S6 I) \; q
  e( b4 n4 i8 q, ]+ B
对于上图所示的一对内层的差分走线,在5GHz处,校准后测出来的插损只有1.264dB,不做校准测出来的插损是4.226dB,比真实损耗多了3dB。这多出来的3dB就是仪器+cable的损耗。
3 H# y5 h2 b6 s6 i
( P( b8 k8 R5 j6 K
对于测量S参数前要校准,绝大多数同学还是认可的。因为在频域无法将仪器、cable和DUT的效应区分开,看到的就是三者total的效应。但测阻抗要不要校准,就有不同的声音了:“阻抗结果是按时间先后顺序显示的,校不校准都能看到DUT的阻抗”。先不解释,还是直接把对比结果秀出来。
& |! U( ?) B5 B6 s  t0 L, J5 }) V3 r0 C
先来看看不校准直接测阻抗,结果是什么样的。我设置了一个测量区间,可以看到在测量区间内最大值是107.9Ω,最小值是101.9Ω。* Y- A1 M" d- ^! O, I! }
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再来看看校准后的阻抗测试结果是什么样的:此时在测量区间内的最大值变成了102.2Ω,最小值变成了97Ω。- f! r9 S! u: ]/ ?5 b5 ^9 g

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上面两张图,虽然不校准也能很清晰地辨认出属于DUT的阻抗区间,但是不校准直接测的阻抗比校准后再测的阻抗高了5ohm左右。这个差异度你能接受吗?比如客户的设计阻抗是100ohm,给到工厂加工的阻抗管控要求是100ohm+/-10%,制板出来的阻抗是106ohm,本来板子是妥妥地满足100ohm+/-10%的要求,结果被你圣手一测,阻抗直接飚到了111ohm,好了,判Fail。不管你能不能接受,反正工厂是第一个被冤死了,接着客户也被吓得心慌慌,准备开会讨论要不要往下做PCBA了。
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发表于 2020-5-30 15:03:35 | 显示全部楼层
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