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测试前不校准,真实结果知多少?

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发表于 2020-5-29 15:36:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
作者 | 刘丽娟(一博科技高速先生团队队员)
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上上周我们在B站放了关于矢网为什么要校准,以及校准实操步骤的视频。
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有同学在反问我:那我不校准能咋地?看你操作半天,好浪费时间,就不校就不校……
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对于这么傲娇的人,已经不能单纯地以理论说服他了,先直接简单粗暴地把测试结果丢出来。8 \& l: a. [* Y; c" W
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矢网(VNA)看家本领是测S参数,那我们就先来看看对于同一个DUT,做完校准测出来S参数结果是什么样的?而如果不做校准,测出来的S参数又是什么样的,和真实结果能有多大差异?1 _7 a% z" R/ A+ T- |& u, I: o/ V
- S0 l! |& ~3 o4 n
对于上图所示的一对内层的差分走线,在5GHz处,校准后测出来的插损只有1.264dB,不做校准测出来的插损是4.226dB,比真实损耗多了3dB。这多出来的3dB就是仪器+cable的损耗。
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对于测量S参数前要校准,绝大多数同学还是认可的。因为在频域无法将仪器、cable和DUT的效应区分开,看到的就是三者total的效应。但测阻抗要不要校准,就有不同的声音了:“阻抗结果是按时间先后顺序显示的,校不校准都能看到DUT的阻抗”。先不解释,还是直接把对比结果秀出来。
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先来看看不校准直接测阻抗,结果是什么样的。我设置了一个测量区间,可以看到在测量区间内最大值是107.9Ω,最小值是101.9Ω。, ?0 ~& c! U0 j" d5 F& d  c5 t

  a" _7 l1 L2 J+ k7 a* c再来看看校准后的阻抗测试结果是什么样的:此时在测量区间内的最大值变成了102.2Ω,最小值变成了97Ω。0 W6 b+ Z% [3 J  ?. {

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6 @7 x# K- c6 m. ?2 ^3 T上面两张图,虽然不校准也能很清晰地辨认出属于DUT的阻抗区间,但是不校准直接测的阻抗比校准后再测的阻抗高了5ohm左右。这个差异度你能接受吗?比如客户的设计阻抗是100ohm,给到工厂加工的阻抗管控要求是100ohm+/-10%,制板出来的阻抗是106ohm,本来板子是妥妥地满足100ohm+/-10%的要求,结果被你圣手一测,阻抗直接飚到了111ohm,好了,判Fail。不管你能不能接受,反正工厂是第一个被冤死了,接着客户也被吓得心慌慌,准备开会讨论要不要往下做PCBA了。
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发表于 2020-5-30 15:03:35 | 显示全部楼层
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