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1. Webinar主题： PCB可测试性自动仿真提升产品质量 2. Webinar时间：Mar-16, 8:00PM
3. Webinar 内容简介：
随着产品多品种小批量的发展趋势，产品良率不断面临巨大的挑战，如何能最有效的发现生产缺陷并最快速的进行定位维修变得尤其重要。
传统的可测试性分析流程是不完善的，大多数时候，他们都是在 layout的最后阶段才考虑DFT问题，并且是通过人工检查的方式进行可测试性评审。
低效的可测试性分析意味着设计无法很好的进行ICT测试，这样会给功能测试工序带来压力。ICT测试覆盖率低，意味着高的ICT测试通过率，但相反，这意味着很多不良板无法被ICT发现，而被漏失到功能测试，分析功能不良往往需要花费更多的时间和成本。这表示更多无法维修的单板会面临报废，甚至会影响产品出货以及公司利润。
最佳实践的高效可测试性策略是将可测试性分析左移到整个新产品设计流程中，并使用PCB可测试性工具来提升测试覆盖率，从而提升产品的设计质量。
通过此次研讨会，我们将展示客户如何在Valor DFM工具中高效的进行PCB可测试性自动仿真，提升测试覆盖率和产品质量，从而提升企业的竞争优势。
4. 学习/内容亮点：（5条左右） 1) 如何避免AOI过程中的阴影效应 2) 如何提升ICT测试覆盖率 3) 如何减少因功能维修造成的成本损失 4) 测试策略的最佳实践
5. 职业涵盖范围 1) 测试工程师 2) 硬件工程师 4) DFM工程师 5) 工艺工程师 6) 供应商质量工程师
6. 产品涵盖范围 Valor NPI
7. 讲师照片与介绍
季伸彪在西门子EDA担任技术市场工程师，2019年加入西门子EDA团队。在此之前曾在国内大型EMS公司及国内知名通讯公司任职，深刻了解DFM在PCB设计与制造中的优势，2006年开始从事DFM相关岗位，2011年开始从事Valor NPI技术相关岗位。
随着产品多品种小批量的发展趋势，产品良率不断面临巨大的挑战，如何能最有效的发现生产缺陷并最快速的进行定位维修变得尤其重要。
传统的可测试性分析流程是不完善的，大多数时候，他们都是在Layout的最后阶段才考虑DFT问题，并且是通过人工检查的方式进行可测试性评审。
低效的可测试性分析意味着设计无法很好的进行ICT测试，这样会给功能测试工序带来压力。ICT测试覆盖率低，意味着高的ICT测试通过率，但相反，这意味着很多不良板无法被ICT发现，而被漏失到功能测试，分析功能不良往往需要花费更多的时间和成本。这表示更多无法维修的单板会面临报废，甚至会影响产品出货以及公司利润。
最佳实践的高效可测试性策略是将可测试性分析左移到整个新产品设计流程中，并使用PCB可测试性工具来提升测试覆盖率，从而提升产品的设计质量。
l Valor DFM工具如何帮您解决产品的可测试性问题。 Valor NPI可提供数十项DFM检查，可以支持所有类型的单板验证：普通基板，柔性板，刚柔结合板，甚至于 封装基板等 l Valor 3D 元件库使能更精准的可测试性分析 西门子EDA拥有行业最完整的3D元器件模型库，通过轻松的一键单击，就可以获得通过ISO标准的上十亿规模的元器件模型，利用模型库可以实现虚拟的数字化可测试性分析。
l Valor NPI是唯一具有“制造”驱动引擎的自动DFM分析软件 Valor NPI能够智能的识别和分析PCB设计数据，然后根据设计数据自动识别产品类型和测试要求，自动匹配对应的可测试性规则，整个过程不需要人工介入，实现高效智能的可测试性分析。
l EDA工具与Valor DFM工具的集成让真正的并行设计成为可能 Valor Concurrent DFM方案将Valor NPI完全集成在Layout环境中，让用户可以在设计阶段就让您的产品执行可测试性检查, 一切都在熟悉的Layout软件环境内完成，真正实现并行的可测试性设计。
l PCB可测试性自动仿真“左移”缺陷发现工序，降低维修成本 将缺陷单板，从功能维修左移到ICT维修，这会带来最直接的ROI回报。对比功能维修与ICT维修之间的问题定位成本、维修时间成本、维修材料成本，就可以创造足够的ROI回报，订单的生产数量越大，可测试性仿真带来的成本节省越多。
通过此次研讨会，我们将展示客户如何在Valor DFM工具中高效的进行PCB可测试性自动仿真，提升测试覆盖率和产品质量，从而提升企业的竞争优势。
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