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作者：一博科技! w; @, B7 U# H$ [% R# t
% h5 ?. r2 ~" D7 X- ~) |3 n“喂，听得到吗？”# d$ y% C( T1 D2 _0 J+ c
小陈的思绪从胡思乱想中被拉了回来。. I3 G1 U9 |8 x9 e) [# V7 r
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“嗯嗯，会的。”, g4 K* ~- D- F( m- R+ t) ]. B
, }, c3 {3 F$ J5 R( \9 q“那你帮我看一下，我这里有个用测试夹具测试的项目出了问题。”
, m) t( y# ^8 V小陈看了一下相关的测试报告，大概是一个这样的项目：$ m o$ F. g) ~8 i1 Y0 E& G4 a
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中间绿色的板子为需要测试的DUT，只是很简单几段3-4inch的延时线外加上两个连接器而已。这样子封装的连接器性能通常也不错，板子比较薄，全是表底层走线，过孔做的再差也不应该有太大影响，板上也没有stub，按理来说，DUT的损耗应该挺线性的，不存在太多阻抗不连续点，在小陈的想象中，应该是一个这样子的测试结果：" R0 z6 ?0 x. t- G2 `/ K* N9 ?+ W& A
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可是接着往下看测试报告，客户那边的测试结果却吓了我一大跳：/ b9 p6 d; y+ }; ]7 V
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WTF？5GHz处损耗达到21dB？！换算成走线的话这差不多得是30inch的FR4啊！5 T( U, c U2 p$ ?9 W |* [
' J, I' R [& e; c. A$ z9 W9 `小陈赶紧往上翻看了一下测试结构，不对啊，测试夹具只有巴掌大，却做出了半米长的效果，这是什么魔法？/ k8 y& e# I) F( F/ v! l2 Y* e, B) g
" q+ I2 H% t' k9 ], F' U3 G7 {4 h转念一想，小陈释然了，在仿真软件中搭出了推测的拓扑，果不其然：
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) f/ L# Q$ b* _6 b* \) W# d原来，该夹具使用的是焊接式SMA，并且焊接时将SMA头的针脚全部没入了PCB中，如果走线与SMA头同一面的话，整个SMA头的信号针将成为一个stub，加上底部的锡球，这个stub将超过4mm。并且要保证能将SMA头插进去并且焊上，这里的金属化孔会做的比较大，导致这里阻抗较低，stub将会吸走更多的能量，造成更大的反射。
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* Y! t1 O5 A! G- @问题找了出来，客户也放心了。看来测试夹具不仅仅是简单的把被测物延伸出来连上仪器。你还需要根据被测物的结构考虑可测试性；需要去减少夹具本身对测试结果的影响；需要根据信号协议考虑是否要去除夹具本身的影响；需要考虑什么样的测试方案是成本最低，效率最高的；需要考虑如何能覆盖所有的测试需求••••这些东西跟层叠一样，是需要进行取舍的。- \7 h% r2 ^# F# n" ?& W8 G! P
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那我们会不会做测试夹具呢？应该是会的吧。 |
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