PCIe接口全称PCI Express,由PCI-SIG组织发布的用于替代PCI总路线的新一代高速串行总线与接口。PCIe接口版本经历PCIe1.0、PCIe2.0、PCIe3.0,目前主流应用的PCIe接口为PCIe2.0。
+ M8 @ W- u9 O7 \8 }PCIe作为高速差分串行接口用于替代PCI单端并行接口,在进行物理层信号测试时,不同于PCI利用同步时钟(33MHz)进行数据读写,PCIe通过高达2.5Gbps的速率对信号进行收发操作,硬件测试时主要关注其参考时钟(100MHz)和差分收发信号(2.5Gbps或5Gbps)。
, c1 k# b9 F8 ~& [ M
azwk4cb0ppw6408535754.jpg
4 u# I0 \. g. A0 H( S/ S
1、PCIe接口硬件特性PCIe规范非常复杂,规格分为基本标准(Base)和CEM标准(Card Electromechanical),前者主要描述PCIe的基本结构、协议、链路层、物理层以及软件接口,适用于所有PCIe接口,后者重点关注PCIe接口在PCI桌面/服务器中的应用策略,包括各种类型的插卡的定义与使用等,两个规范互有关联,要理解芯片级互连的硬件(电气)特性要求,需要深入分析两个规范。
0 u3 ^7 G3 j' Z! w" y( b; o
2u4m02zwwfm6408535854.jpg
& a5 U! R& C+ X# Y+ {7 i3 ~
2、PCIe基本拓扑结构PCIe CEM标准规范根据PCIe器件的位置将PCIe分成三种拓扑结构:9 g$ y# J- P. u. Z* J
芯片级互连,PCIe器件在同一系统单板上;插卡级互连,PCIe器件通过插卡与系统板插座互连,系统板和插卡上各有一个PCIe器件;背板级互连,PCIe器件分别在两种插卡,通过背板(或系统板)上插座完成PCIe互连。
5 M0 c3 s. v! Q- k6 l' @) `) Q/ y" A7 B
gjikbowrg4e6408535954.jpg
3 U3 f( ~: H" Y9 o1 d) v% Z! u% d0 G
图2.1?1、芯片级互连
, w& a; _5 D" B5 Y1 A
xbceurmqroo6408536054.jpg
/ ~$ I+ n+ c' Y5 C图2.1?2、插卡级互连
$ |# C( a- B2 L4 d9 h, G) d
hx2g055hecv6408536154.jpg
0 J3 s6 S' B/ T" ~3 W4 m
图2.1?3、背板级互连+ X: c+ A( W6 L9 V) ^. e
其中,插卡级互连与背板级互连多用于PC或服务器的主板,PCIe CEM规范对其硬件电气特性描述非常详细,且主流的高端示波器厂家都提供了一致性测试夹具和软件,这里不作描述。" Q' [% C* D' T1 q
3、芯片级互连PCIe电气特性芯片级PCIe互连在通信产品中应用极为广泛,目前几乎完全替代PCI接口,成为了芯片互连的标准接口。芯片级PCIe接口通过是1 lane的差分串行线连接,主要信号包括复位、参考时钟Refclk以及收发差分串行SerDes信号,复位信号较为简单,PCIe规范没有特殊要求,本文重点讨论Refclk与SerDes信号要求与测试。. e( Q7 o" l7 k# Z3 H2 f9 }! \
cnhiosughu06408536254.jpg
; X# L, S: Y' U" q
3.1 参考时钟Refclk±关于PCIe参考时钟, PCIe Base 2.1规范中没有对Refclk的电气特性有明确说明,只是在4.3.7章节说明对于2.5GT/s系统的时钟参考《PCE Express Card Electromechanical Specification, Rev.2.0》。$ A5 y' [- p: D7 v2 i
am4ayyq2dey6408536354.jpg
- f$ o! e9 d, c4 f% n; |: f* V
查看PCIe card 2.0,对差分时钟Refclk±有明确的电气特性要求,如下所示。
- B) C$ a$ x0 q, Z8 O; q8 @
zgp1f2tsn016408536455.jpg
* A0 F1 w0 [! s" |1 N2 h- I) }. T- m( ^2 c: Z: {
myclmgakhc06408536555.jpg
, v- O* ]9 u b# ^
: N; _) I2 @/ G/ b$ l* o' z
eiihaisq04s6408536655.jpg
3 q; z# C6 R7 n8 c+ |# G \6 j从规范的要求来看,对输入参考时钟重点关注时钟频率(周期)、占空比、上升/下降沿、差分输入高低电平、边沿单调性、单端交叉点电平以及周期间抖动等指标。6 P3 X4 r4 Y: t& \/ E: B
a4g2nthb4ek6408536755.jpg
6 B0 ]3 L& `6 |对于PCIe参考时钟的使用,一般也有两结构Common-clock bus与 Source synchronous bus,前者是通过晶振或差分时钟驱动器同时给PCIe的主(master)从(slave)器件提供参考时钟,后者是同主器件驱动时钟给从器件接收。对于common-clock模式,主从器件的参考时钟都要测试,PCIe接口中的参考时钟只是作为基准时钟使用,对差分信号没有同步要求,所以不需要测试主从时钟的时延skew,对source syschronous模式,只需要在从器件测试参考时钟的接收端即可。
4 M' a5 \& @2 x+ b$ a3.2 高速串行差分信号RXD±与TXD±PCIe2.X支持5GT/s和2.5GT/s两种速率,对于板内芯片级互连来说,驱动端(Transimitter)信号质量不是最重要的,重点关注接收端(Receiver)信号的电气特性要求。2 i1 l( r+ C5 H" r2 u) ~
PCIe Base 2.1中第4.3.4章节对Receiver的电气特性有了明确要求。
' q' l. q9 o) Q' ?1 z2 I3 \
1xbvpsm5dld6408536855.jpg
8 D7 }8 J# T7 G9 K/ H- P: W
Z# k% [$ t7 f, e( m! Q1 x& |
qvr3hvqlswc6408536955.jpg
) A L( v3 a/ H( G) N
从规范得出,Receiver重点关注差分信号眼图和抖动,对应VRX-DIFF-PP-CC和TRX-EYE-MEDIAN-to-MAX-JITTER,同时,测试时需要设计Rx PLL的带宽。
+ }& N7 W" V- p' A! q% T9 d4、PCIe接口硬件测试根据上述章节对芯片级PCIe硬件电气特性的描述,PCIe硬件测试主要包括PCIe参考时钟测试和PCIe接收端信号测试。
" u* Y6 T, v( g9 B4.1 PCIe参考时钟测试PCIe参考时钟Refclk±为差分信号,分单端测试和差分测试,前者使用两个有源单端探头同时测试参考时钟的正负端,测量交叉点电压VCROSS,同进观察边沿单调性;后者利用差分探头测试差分时钟的正负端,测量项包括频率、上升/下降沿斜率、差分高低电平、点空比、边沿单调性、时钟抖动等。具体测量项见下表所示。! y; l, s8 \! }& w$ f) t( K
表4?1 PCIe参考时钟特性测试数据6 o9 z3 q: a; s
qljocpgc2wd6408537055.png
# H0 J2 F% o) {9 U
4.2 PCIe接收端信号测试PCIe串行数据信号测试,只测试信号的接收端(RXD在master端测试,TXD在slave端测试),测试点尽量靠近芯片引脚处。因PCIe规范对数据交叉电压没有要求,数据信号主要是测试差分信号,单端不作测试。测试内容分为眼图和抖动,测试时注意示波器PLL带宽的设置。9 y" p) Z% x' C0 ]' q
表4?2 PCIe数据测试数据
8 J+ @, V0 r B4 h
w0k1vxpfu3n6408537156.png
H8 m+ C& y+ V4 x6 j% O, t$ B
5、PCIe硬件测试案例以某通信产品为例,测试其WIFI与CPU互连的PCIe接口信号,测试结果如下。2 B, }/ i! I' F4 p! V) y0 U
表5?1 PCIe时钟测试数据 [3 G* ^* m6 H. k
34zx5cszep16408537256.png
8 v( |9 M& c* N. B' X( }& e, @" T表5?2 PCIe时钟测试数据
, ]8 Z2 b# Y( r: R" l
32smgbltgln6408537356.png
- U7 T$ [1 R& Q" x4 ]) t, D3 F1 n( h0 n/ Y
x5zecl3kq316408537456.png
+ o, @6 T; D- ?6 a. i1 E2 q& n r
, N; M" i" t. q$ s3 L
wetq3f5cjbh6408537556.jpg
( z6 b0 E/ h& F# u @+ m
图5?1 PCIe参考时钟测试波形: T; M1 |: d/ W# G
lqjrybqmv5d6408537656.png
4 @& f6 G/ U7 U9 R/ j2 U
1 Q: g3 g0 R0 I; m) c, ] 9 K; y |. G7 J/ K4 i5 ]
图5?2 PCIe接收端RXD测试眼图
s+ ?- }. M0 z; l& a/ D
( T- i0 V# T' K3 _) l: f* K v; h7 _+ R( d5 c
Z- p: B |( u0 g: T+ x
图5-3 PCIe接收端TXD测试眼图 |