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电子设备老化实验怎么做?

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发表于 2024-9-25 11:00:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

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3 S8 C% E; @) O8 {点击上方蓝色字体,关注我们
6 o! `- \* X$ B. c* y9 ^电子设备老化实验(Aging Test)是为了验证电子设备在长时间使用下的可靠性和稳定性,通过加速其工作环境或使用条件来模拟其长时间运行的状态。这种实验能够发现潜在的故障和性能衰减,确保设备在实际使用中的耐久性。
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8 r6 ]2 |$ ~. g/ W( Y( N1" j- _7 c) T" J' t5 H
目标设定/ K" N" H" l4 d4 W! Y" O
确定实验的目标,例如测试设备在某个环境下的使用寿命、性能退化情况或是特定元件的耐久性。明确目标有助于设计合理的测试方案。
8 t/ }- H; ^1 |( G6 ~/ y4 d" \1 ?2
- n% y& t' G) D5 U8 D样品准备+ ?+ ^9 Z: e4 m& f% T& S) X1 J
选择适当数量的测试样品,确保样品能够代表设备的典型性能和质量。通常,样品数量越多,测试结果越具有统计意义。
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9 V6 e9 ^9 O5 B, V加速老化条件的设计) K3 M( f. Q% R, b
  • 温度:通常会将设备放置在高温环境下运行,如70°C或85°C,甚至更高,模拟多年的使用效果。高温可以加速元件材料的老化反应。
  • 湿度:一些电子设备可能会在高湿环境下工作,湿度的增加会加速材料腐蚀或绝缘层的劣化,通常采用85%~95%的湿度条件。
  • 电应力:通过提高电压、电流等工作应力,加速元件的电气性能衰减。
  • 振动与冲击:对于会遭受机械应力的设备,通过振动台或冲击台模拟设备在运输或使用过程中受到的物理冲击。
  • 连续工作时间:设备会被长时间不间断运行,以测试在连续高负荷下的稳定性。1 Q3 f3 s7 [' [
    5 r% h) \/ {! _8 ~( H4 r" e! @
    4" e# l5 a# I: t: w( B4 }: l
    实验监控
    4 Q+ O4 V: }& ]. J9 C) Z, e实验过程中,必须持续监控设备的工作状态,记录电气参数(如电压、电流、功率等)、温度、信号的输出等信息。出现异常时要详细记录并分析故障原因。
    . T0 W& c4 I  a/ Z7 `54 S+ k5 U2 ^3 y4 J
    故障分析
    3 Z6 k9 z1 F0 u, U& q在老化实验结束后,进行故障分析,找出设备中表现出不稳定或失效的部件。结合失效数据评估设备的寿命和可靠性,并根据这些数据对设计或制造工艺进行改进。
    * R& m5 n( Y9 |; [: l6
    ( k% N. p# j; D0 O* z数据分析与报告7 }6 @+ \' }( j: w
    记录实验数据,统计设备的失效率和性能变化,生成老化曲线并与预期寿命进行对比。根据测试结果得出结论,分析是否满足产品设计标准。
    7 F1 s, B! V6 `7: {  }0 O' t1 o# ], u9 q: {
    具体例子0 Y" D0 j: z, z! o
    例子 1:手机的老化测试1 D  |' A/ W' Q$ q
    在对智能手机进行老化实验时,测试环境通常为高温(80°C)、高湿度(90%)的条件下进行。手机在实验期间会保持持续通电,并进行周期性的操作测试,例如触摸屏响应、通信模块、Wi-Fi信号等功能测试。实验时长可能会设定为1000小时(相当于几年时间的模拟),并实时监控电池的放电性能、显示屏的颜色变化、主板元件的工作温度等。0 e7 }( X( @( j
    $ R2 }/ `$ z1 V4 q5 }6 s+ r
    例子 2:电动汽车充电设备的老化测试
    6 C% z) m$ ?2 ?# ]电动汽车的充电设备(充电桩或车载充电器)通常需要进行高温(70°C以上)、大电流(满载状态)的老化实验。通过长时间持续的充电放电循环,来测试设备的散热能力、功率输出的稳定性、电缆及接头的耐用性等。这类实验能够提前发现充电设备在长期使用中可能发生的故障,例如过热保护失效、接口老化、功率下降等问题。
    ! i1 I+ e3 L* s& L, Q% u
    # K$ |; H" Q* t$ C' H9 I2 x例子 3:服务器的老化测试
      R/ W2 L9 L$ D4 n对于数据中心服务器,通常在高温(如55°C)和高负载条件下进行老化测试。实验中会对CPU、内存、硬盘等元件进行长时间的压力测试,并且监控温度、响应时间、数据读写速度等性能指标。目标是确保服务器能够在长时间高负荷下稳定运行。" ]1 q% p5 j7 M9 \# X: Z0 H2 S; n* |
    83 y2 T& K  C& b& w" t  E* C
    注意事项
    3 D0 ]8 C7 m) j6 s  v+ t7 Q$ _
  • 样品量:为了得到统计意义的结果,必须对足够多的样品进行老化测试,通常不低于10个样品。
  • 时间设定:老化实验的时间并非越长越好,应该结合设备的设计寿命、使用环境以及实验室条件合理设定。
  • 安全性:实验涉及高温、高压等极端条件时,必须采取安全措施,避免设备故障引发火灾或人身伤害。
    * i2 n1 G7 X7 E' S7 b

      P& \0 V2 R: P, o通过电子设备老化实验,能够大幅提高产品的可靠性,为消费者提供更耐用、更稳定的电子产品。3 G- u! j+ A" n  U& C( n2 R1 o

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