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引言
9 h' l: C" \: ~ _& \$ ^集成光电子技术在高速通信、量子信息处理等多个领域带来了变化。在众多探索的材料中,磷化铟镓(InGaP)因其强大的非线性光学特性和宽禁带而成为极具潜力的候选材料。本文将探讨InGaP-on-Insulator(InGaPOI)的晶圆级制造工艺及其在非线性和量子光电子应用中的潜力[1]。# L# m/ y! u9 I- Q2 ~
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q4 {- h" [. l; I" i图1:完成全部制造工艺后的100毫米InGaP-on-Insulator(InGaPOI)晶圆。
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InGaPOI平台:优势与挑战# a V6 _6 _! { C1 W" z7 \
相比于集成光电子中常用的其他材料,InGaP具有多项优势。其二阶非线性极化率(χ(2))高达约220 pm/V,是AlGaAs的1.5倍,是铌酸锂的10倍。此外,三阶非线性极化率(χ(3))与其他III-V族半导体相当。1.9 eV的宽禁带(对应波长645 nm)使得在电信波段进行高效非线性过程时不会产生显著的双光子吸收。& Z% P. f/ R5 z' u! I4 j9 W
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尽管具有这些优势,InGaP在集成光电子中的广泛应用受到了制造工艺挑战的限制。开发可扩展、可制造的高质量InGaPOI器件工艺对于实现其在实际应用中的全部潜力具有重要意义。
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5 F4 b$ e8 ]4 p+ j8 |晶圆级制造工艺
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图2:InGaPOI工艺流程图,展示了制造的关键步骤。- D/ Z8 X8 `. c# m: @
2 [' S1 P( u" n6 _9 A# Y; hInGaPOI的晶圆级制造涉及几个关键步骤:晶圆键合:首先进行低温等离子体活化键合,将InGaP外延晶圆与热氧化硅基底晶圆键合。这一步骤需要仔细检查和清洁晶圆,以确保高质量的键合。衬底去除:使用NH4OH:H2O2湿法刻蚀去除GaAs生长衬底。然后用稀HF选择性去除AlGaAs刻蚀停止层。波导定义:使用原子层沉积(ALD)沉积90 nm厚的SiO2硬掩模。通过深紫外光刻和电感耦合等离子体(ICP)刻蚀定义波导特征。包覆层和加热器:沉积30 nm ALD SiO2层和1.5 μm PECVD SiO2层作为波导包覆层。然后在包覆层顶部图案化Ti/Pt电阻加热器,用于热光相位调谐。刻面和切割:晶圆进行刻面工艺,然后切割成单独的芯片进行测试和表征。
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这一工艺可以在单个100毫米晶圆上制造数千个光电子器件,并有潜力扩展到200毫米晶圆。$ l5 }8 C! u& Y4 J7 }" t% p4 |
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器件设计和优化
$ |2 M0 w* `8 @8 j8 ^# mInGaPOI器件的设计需要仔细考虑波导几何结构,以实现不同非线性过程的最佳性能。两个主要关注的过程是自发四波混频(SFWM)和自发参量下转换(SPDC)。4 m" x* V' ]8 i6 E" I0 J/ [
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3 H6 O: `# r9 q- Y/ w0 `; H图3:SFWM和SPDC设计的模态截面和色散特性。
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对于依赖χ(3)非线性的SFWM,理想的是近零色散波导设计。这允许在更宽的带宽范围内产生纠缠光子对。模拟表明,400 × 650 nm的波导截面对于使用基础TE模式在1550 nm进行SFWM是最佳的。4 J. W- E, v& P2 e D0 n
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利用χ(2)非线性的SPDC需要泵浦光(通常在775 nm)和产生的光子对(约1550 nm)之间的相位匹配。由于InGaP的强材料色散,实现相位匹配需要使用高纵横比的波导截面。对于102 nm的波导高度,相位匹配的理想宽度约为1.2 μm。4 @7 F% J( R. u" h4 M: ?" }' B
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引言器件表征和性能
9 B- z( r) Q7 ^5 K+ F6 i1 [+ J为评估制造的InGaPOI器件质量,采用了多种表征技术。使用可调谐激光在1530至1600 nm范围内扫描,对微环谐振器进行线性透射测量。
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' g+ ~' D, m l$ r& O( W& m2 g图4:1550-1600 nm范围内的典型环形谐振器透射谱,插图显示了高Q值谐振。
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4 Y8 r9 T; ?* o* t4 U" H透射谱显示了载荷品质因数(QL)超过200,000的高质量谐振。通过将谐振拟合到解析模型,测得本征品质因数(Qi)高达440,000,对应1550 nm处的传播损耗低至1.22 dB/cm。
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图5:微环谐振器的传播损耗与半径和宽度的关系,以及整个晶圆上最高的本征品质因数。+ e9 z7 M. F4 S
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对制造的器件进行进一步分析揭示了几个重要趋势:传播损耗随环半径增加而降低,从20 μm半径时的约5.4 dB/cm降至40 μm半径时的约2.4 dB/cm。更宽的波导表现出更低的损耗,这是由于与侧壁的模式重叠减少。在整个晶圆上持续实现高质量器件,本征Q因子范围从194,000到440,000。/ M- o. Y5 F- L, L) h
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这些结果展示了晶圆级制造工艺的优异性能和均匀性。$ U. T0 F' c3 ?# P
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与其他非线性平台的比较! J8 F- V: s' I& S
InGaPOI在1550 nm处实现的1.22 dB/cm传播损耗与其他新兴非线性光电子平台相比具有竞争力。
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虽然一些材料如AlGaAsOI和绝缘体上铌酸锂(LNOI)已经展示了更低的损耗,但InGaPOI平台提供了几个优势:使用深紫外光刻的晶圆级制造,实现更高的产能和批量生产潜力。强大的χ(2)和χ(3)非线性,允许多样化的非线性光学过程。宽禁带,减少了电信波长下不需要的非线性吸收。* F [; X* {) I1 m: v
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2 U4 a8 I* O! D- ^8 h! a未来前景和改进+ }: p# ^4 L* {5 H' C( F0 F+ `9 N
当前结果令人鼓舞,但InGaPOI平台仍有改进空间:先前研究表明,使用Al2O3进行表面钝化可以将本征品质因数提高3倍。使用氘化SiO2作为包覆材料可以在1550 nm处将吸收损耗降低约7倍。进一步优化制造工艺,包括改进刻蚀技术和表面处理,可能导致更低的传播损耗。: E8 W4 q5 ?2 s3 ~
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' }$ s0 x6 b% o* Q这些改进可能使InGaPOI器件的性能达到或超过其他非线性光电子平台。
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8 R- H9 Q, q# l结论
( m* j) K0 p. {0 T高质量InGaP-on-Insulator器件的晶圆级制造是集成非线性和量子光电子技术发展的重要进展。强大的χ(2)和χ(3)非线性、宽禁带以及现已实现的低损耗波导的组合使InGaPOI成为适用于广泛应用的多功能平台。
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参考文献
" `# J" W. F+ S[1] L. Thiel et al., "Wafer-scale fabrication of InGaP-on-insulator for nonlinear and quantum photonic applications," Appl. Phys. Lett., vol. 125, no. 131102, Sep. 2024, doi: 10.1063/5.0225747.
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, l6 G6 f8 Z( u. P; ]1 q深圳逍遥科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家专注于半导体芯片设计自动化(EDA)的高科技软件公司。我们自主开发特色工艺芯片设计和仿真软件,提供成熟的设计解决方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分别针对光电芯片、微机电系统、超透镜的设计与仿真。我们提供特色工艺的半导体芯片集成电路版图、IP和PDK工程服务,广泛服务于光通讯、光计算、光量子通信和微纳光子器件领域的头部客户。逍遥科技与国内外晶圆代工厂及硅光/MEMS中试线合作,推动特色工艺半导体产业链发展,致力于为客户提供前沿技术与服务。
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