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照例,先抛出来一道面试题:“PCB板上的晶体不起振,可能是什么原因?”。这个问题比较常规,笔试题中标的概率比较高,实际使用时也可能会碰到这类问题。如何回答,10秒时间自己先思考下。
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3 p* o& f$ [2 I1 L( H: Z(-R) 是什么?8 _" i6 |0 [ z# H: D
要回答这个问题,我觉得有必要先搞清楚什么是晶体的负性阻抗。2 q d4 a0 h: I* L4 M' q( ^& D
4 a7 x6 W1 D _- Q7 {负性阻抗,英文:Negative Resistance;简写:-R;单位:Ω。在网上搜了下,找到如下描述。
# b8 y% S+ \3 i7 u! M8 f2 i' r负性阻抗是指从石英晶体共振子的二个端子往振荡线路看过去,所得到振荡线路在振荡频率时的阻抗特性值。-- 源自网络9 z; T b! T1 Q) H
还有一种解释,是从Murata网站看到的。
% p" `& [; X: G1 U* P负性阻抗是指用阻抗表示的振荡电路的信号放大能力。--村 田
+ h" q6 y; g9 C这两个定义,看起来都比较偏学术,不太通俗。我个人倾向于Murata的解释。大家知道大概意思就行了,不必纠结,重点是下面的内容。/ f: p. S& V0 k
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* N1 B+ |6 S* ^2 H' ]+ F1 h" N# m8 N(-R) 能做什么?
, n+ d( [. c' t! v5 s4 T5 p! C+ A$ S上面的定义,你可以不理解不清楚,但是下面这个你必须搞清楚弄明白。3 f& d$ W* H( W! D& ~' {3 R0 W( T, |$ |
敲黑板,这才是重点!!!
$ v! y- C! D. X) h负性阻抗(-R)用于表征振荡裕量,即从振荡到振荡停止的裕量。
$ L. k6 |+ r6 |2 e负性阻抗(-R)不是晶体的内部参数, 而是PCB电路的实测值,是晶体在PCB线路设计时的一个重要参数,可用于判断晶体振荡电路的稳定性。, ~/ [# A* z1 L- k& s$ |
如果在PCB上测出来的负性阻抗偏小,则表示该晶体振荡器的线路设计起振裕量不足,设计不合理。
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(-R) 测量方法及步骤
7 t/ @! ^! d* J7 q说完负性阻抗(-R)的作用,再说下它的测量方法。8 Q6 Q7 E* u. H* \% c
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9 i1 I+ {1 a5 K' a/ j: v" u上图为负性阻抗测试的示意图。图中,Xtal是晶体,Rf是负反馈电阻,Rd是限流电阻,CL1/CL2是外部匹配电容,Vr是可调电阻。
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% d1 H+ n, W- x7 K3 K! z$ Z负性阻抗|-R|的测试步骤: R) q1 _) w8 y2 F! o* Q$ v- J
①将可调电阻Vr与晶体串联接入回路,如上图。正常情况下,晶体振荡电路是不需要Vr的。Vr是我们为了测试|-R|,刻意添加进去的。' |' i' E, n x7 a* L" Z+ ^5 E
②调节可变电阻Vr,使回路起振或停振。当回路刚停振时,测试Vr的阻值;
, ~4 j% E/ O" n+ T3 a③通过公式|-R|=RL+Vr,计算得到负性阻抗值。
) [4 b% h( i0 a) Y' J特别说明:RL是晶体加负载电容的谐振阻抗,不是ESR。网上看有些文章,直接写|-R|=ESR+Vr,这是不对的,不要被误导。 |0 {" ^$ E: X! U' _
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( D& J( q1 |0 U" C) L1 L(-R) 阻值定量分析9 y+ j2 ]% o9 \/ k/ L0 G/ a2 |4 F
根据上面的测量,此时已经得出负性阻抗(-R)的阻值。: X: ^3 V) s* B1 u- C
既然负性阻抗(-R)偏小表示晶体起振裕量不足,那(-R)阻值多少才算是一个合理值呢?
6 }* G* \* U5 N现在我们从定性分析已经进阶到定量分析,继续往下看。
" C$ F5 X% `/ W4 _& e至少是规格书标称ESR的5倍,才合适!阻值越大,振荡裕量越高,说明振荡越稳定。
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6 H i! j/ n4 o5 ^- F" \" b3 y实际案例
E# L* @/ L7 T* f0 y. N, P上面讲的一大堆,都是理论知识。如果仅仅这样就结束本篇文章,那太不符合硬件微讲堂贴近实战的秉性,更体现不出来专业性。" V: i# h5 I2 J* p$ g1 @% n: r
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5 O, I3 N. d& Z上图是某品牌的晶体匹配测试报告中负性阻抗(-R)和振荡裕量计算部分。
. B9 S1 W4 Y" @. a可以看出:可调电阻R实测值为769Ω,RL为10Ω,则负性阻抗|-R|=779Ω。而该晶体标称的ESR(max)=60Ω,则振荡裕量(倍率)=|-R|/ESR=12.98倍,大于要求的5倍,满足起振要求。
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晶体不起振的原因…: ~$ v$ Q( t$ Z* `7 w- n" T
再回到文章开头提到的面试题“PCB板上的晶体不起振,可能是什么原因?”,负性阻抗偏小,振荡裕量不够,就是一个可能性比较大的原因。但这并不是唯一的原因,还有其他原因么?
7 [* X$ e W% p当然有,其他原因有哪些,欢迎你在留言区补充。
: K; k$ U# L) d( Z( H, ^/ g I" |, o3 e. e/ @; ~( ~$ i
/ V! J O) t6 _7 u$ @
晶体不起振,如何调整?
. J6 K& ]$ H2 z" @3 R4 U; x: h这也是一个不错的问题,我说2种方法:
0 N5 W+ \2 `# e" c! _/ j& L方法①:减小外部匹配电容CL1/CL2,以增大负性阻抗;3 t( [% m9 ~+ g0 N. F
方法②:更换标称值ESR更小的晶体,以增大振荡裕量;
3 b4 |/ x7 P9 i. t6 ]& _: F# y欢迎你在留言区补充调整措施。. G1 Q% G: k! j# N! P3 o
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, m* I v' s2 m+ R总结2 n8 N7 p0 P- [9 q
聊到这里,今天要说的也差不多了,总结下今天聊的内容:; P7 p& q8 c* _9 Z" M1 T( G
①(-R)是指用阻抗表示的振荡电路的信号放大能力;
( K- V2 ^( P; m' {) y②(-R)用于表征振荡裕量,即从振荡到振荡停止的裕量;
2 { Q8 y8 K1 m③(-R)不是晶体的内部参数, 而是PCB电路的实测值;
2 }1 n1 Y& L I* w q④(-R)可用于判断晶体振荡电路的稳定性;( L0 K( o, g9 K+ b
⑤(-R)的测试环境示意图和测试步骤;% q' z; Q9 \2 W8 d
⑥(-R)的计算公式:|-R|=RL+Vr,特别说明RL不是ESR;
4 ?" v0 W& [$ D! k7 f6 _4 v! o⑦(-R)的定量分析:至少是规格书标称ESR的5倍,才合适!
7 X5 ^2 H# `& K9 g( C& k⑧晶体不起振的原因:可能的原因之一是负性阻抗偏小,振荡裕量不够。- Z: e% n; `/ V7 H& t6 [7 C; l/ G. C
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附加题:. I5 I$ @* O) U& b
⑨晶体不起振的原因,除了负性阻抗偏小,其他还有哪些原因?
( C I9 t" [1 I# ^⑩晶体不起振,如何调整?欢迎留言交流。 |
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