上次在调试一块电路板的硬件，拔电池很容易就会把充电IC损坏的问题，现在已经找到了一个解决方法。就是在电池的正负极并了一个二极管，拔电池就没有出现充电IC被损坏的情况了。
! N5 Q5 y/ I* {' z. `上次在分析充电IC损坏原因的时候，是这样分析的。电感L2和二极管D17在这里构成的是boost型的开关电源电路。当拔电池时，接电池这一侧的电感PIN脚没有续流二极管，没有泄放回路，电感的感应电动势比较大，从而把充电IC的管脚击穿损坏。
% a4 _/ v6 {, s8 E* M+ J# e3 E2 `5 D( \9 l) q0 _# b% m$ r$ ~
dtosbyuz13j6405010712.jpg
- Z1 @1 z, V0 F+ U
但是，现在想想，上面的分析不是很对，说服力不够，没有数据支撑。现在，我想从另外的角度，通过数学计算的方法，计算出具体的数据，来解释充电IC被损坏的原因。( L: a% ~4 [2 M- g) i
分析这个问题时，我们要分两种情况来看。充电IC的8脚是Boost型的开关电源的SW节点，需要分SW节点断开和闭合两种情况来分析。
8 ^$ W% ~. I3 L7 @" a情况一：当拔电池时，SW节点刚好处于断开的状态，电路就等效成以下电路。
6 _6 @* L) Y; T. T% P% |
8 N+ s1 J4 E) m* @" U' s; o; u W
3ngjviyo15y6405010813.jpg
3 L& l, ~3 `& l5 t
此时，电感对10uF和100nF电容充电，直到电感储存的电能放完。
1 ^) J C9 g' Z$ Z% r3 l- \情况二：当拔电池时，SW节点刚好处闭合的状态，电路就等效成以下电路。- V5 r) Y; T, m$ F+ z& E
4 N+ p7 F6 j+ O) z1 D7 n
ha2fabvhyob6405010913.jpg
+ T% c/ Z7 _1 {! p; R( T0 e5 ^
此时，电路形成了一个无阻尼放电振荡电路。那么可以根据阻尼振荡的相关公式算出最大放电电流，由下图所示。2 Y, G$ i, S; r% Y; w
4wxadbubkas6405011013.jpg
1 W% u: h$ H' S9 f+ ?
由此可见，当拔电池时，电路刚好处于第二种情况，电路中的最大放电电流达到5.5A(当电池为4.2V时，最大电流达到6.3A)，全部流经TP5400的第8脚。又由下图的TP5400内部集成电路，可以知第8脚是一个mos管的漏极，就是开关电源的开关管，集成到芯片上了。当这个MOS导通时，承受不了这么大的电流时，就会被损坏，出现短路现象。这么就可以解释得通，为什么每次充电IC损坏，测量IC的第8脚都是短路的。4 H* E; N( r! P! y: n8 C3 ^
faw3rcgravi6405011113.png
9 ~ R! o; o; i D( g* o
为什么在电池的正负极并了一个开关管后，拔电池充电IC就不会损坏了呢？因为并了二极管后，二极起了续流的作用，电路等效成以下电路。
" I) Y% p2 [+ {+ N/ N( u3 o, V
' l0 F! |1 E; b& F0 Q
2vx2pnikgwr6405011213.jpg
' j/ E; C# a u" D' m. r, I二极管和电感构成了回路，并且电感储存的能量通过二极管快速消耗掉，所以不会对充电IC造成损害，也就是拔电池后，不会再出现充电IC被损坏的现象。 | 
电子产业一站式赋能平台
窥视卡
置顶卡
变色卡
