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TSMC的互补型场效应晶体管(CFET)技术

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发表于 2025-1-6 08:03:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
引言0 e# v2 A, `% E. e' B  z
半导体行业在晶体管架构方面经历了显著的演变。从传统平面设计到FinFET,再到更先进的架构,每一次转变都源于对更好性能和持续缩放的追求。本文探讨这一发展历程中的突破——互补型场效应晶体管(CFET)技术
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4 n4 d7 b6 P/ f$ p1 O( e
图1:展示了从FinFET到NSFET最后到CFET的晶体管架构演变,显示了工艺复杂度随架构进步而增加。1 _2 e% C; Y* @, E! V$ F

8 M9 \3 h/ u6 @% H, D1
- O4 `, u; W- D" O% k9 A- O! \走向CFET的发展历程
/ H. l( c3 G6 `, H. g* W$ v大约十年前,半导体工业从平面晶体管转向FinFET架构。这一转变是由FinFET器件优异的静电完整性和可扩展性推动的,使栅极间距和单元高度的持续缩放成为可能。行业已经成功运用了多代FinFET技术,但在推进半导体缩放极限的过程中,出现了新的架构——纳米片场效应晶体管(NSFET),也称为环栅(GAA)技术  w( e9 j4 J0 B; ?* |/ \

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' I# p  u- W, b3 O; M4 V
图2:说明了CFET如何通过nFET和pFET的垂直堆叠实现1.5-2倍密度缩放,比较了传统CMOS架构与CFET在反相器和SRAM配置中的实现。& r9 i: Y3 @* c8 o' J+ e6 Z" M& Q
. F8 C: Z/ S! j
2$ s" x5 @2 e! Z" S: ]9 q& I
CFET:新一代架构& J2 U4 }! E- C  J. T
CFET代表了晶体管设计的重大进步。通过垂直堆叠nFET和pFET器件,CFET在相同栅极间距下提供了比传统CMOS架构高约1.5到2倍的密度。这种密度提升来自创新的垂直排列,但垂直局部互连所需的空间在一定程度上限制了缩放效益。! J; _4 p; o# L) G7 c+ \- M7 |: C

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$ m7 R8 C( }) u图3:详细的工艺流程图,显示了顶部nFET和底部pFET器件单片3D堆叠CFET制造的关键步骤。# g! g0 J. H7 e& G, h
) U, \+ _% o' B8 L  Y5 K* k
3
2 t9 e0 j1 I* w- J1 E. V  G- j技术实现和制造
1 a7 ~) y+ M2 Z2 p6 y& W7 dCFET器件的制造涉及复杂的工艺,始于SiGe/Si超晶格堆栈的制作。CFET设计的独特之处在于包含了高锗含量的SiGe层,作为中间电介质隔离(MDI)形成的占位符。
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5 p) B, |1 P$ Y& V  \9 y4 M
图4:比较传统NSFET和CFET的SiGe/Si超晶格堆叠方案,显示晶格失配指数作为质量指标。
5 o4 z# n$ l, q( j- j4 g4 n  x9 q5 }. Z5 R4 C3 A
制造工艺采用最先进的技术,包括:& W% w, t+ |; M- C. Z0 L& l
用于纳米片堆栈图形化的极紫外光刻
- m+ }. W- u! C* g. P( x  `2 }/ ^& Z浅沟槽隔离(STI)形成1 D% L9 S: B7 A
栅极间隔物沉积5 A  z* B3 Z0 s3 y9 q3 Q, M
源极-漏极外延生长
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7 L! b2 z1 J9 [8 j
图5:48nm栅极间距单片CFET的TEM演示,显示了具有共享金属栅极结构的nFET在pFET上方的垂直集成。) F+ K. p- O" [

& K, W% l7 T9 E- Z4  q% [2 [" N* ~$ h) t* j# d
器件结构和集成' j$ @( d7 ^+ S/ I' ?) k
CFET结构包含多个创新特征以确保最佳性能。关键要素是中间电介质隔离(MDI)和内部间隔物(INSP)的实现,基于锗含量实现SiGe的选择性刻蚀。
1 ]5 _1 |5 g/ B

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5 _4 U- R) Y8 P' M; _, n. l: w- ^: V6 q
图6:详细示意图显示了3D堆叠CFET结构,分别用于nFET和pFET电气表征的独立配置。
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- d: y6 _8 f) w5 [

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; Z( m6 T) ?, \, N3 x9 E/ v图7:完整3D堆叠CFET结构的示意图,显示同一晶圆上的nFET和pFET触点。
. ^8 J& d9 o; C6 y3 S
4 D3 ~3 u1 D: r+ D- O5
, l: [" V3 R. N  T7 H* G, s1 a性能和结果6 E  k8 V( s0 i' c$ a3 S  N% t
CFET器件的电气特性显示出优异的结果。nFET和pFET都展现出优秀的性能指标:
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% W" I8 |, z. Z$ B6 L4 `
图8:显示nFET和pFET器件存活率超过90%的图表,以及用于评估的存活标准。
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9 T: \6 k' _6 \! P4 Q% u2 P( C图9:Id-Vgs特性曲线,展示nFET和pFET器件优异的亚阈值摆幅性能。6 F& y" q- {( T, \' o

4 y" {* u* L  \1 o6 m器件实现了nFET为75mV/dec和pFET为73mV/dec的亚阈值摆幅,漏极诱发势垒降低(DIBL)值分别为50mV/V和45mV/V。
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图10:Id-Vds特性曲线,显示两种晶体管类型的高开启状态性能。8 D3 E9 N: g- m( q* K

1 F: c! V& b7 j( Q# Y1 p' O6
1 S# e" ?/ S$ i% R  b! \未来展望和挑战
7 r9 M# K0 h0 y' T% cCFET技术虽然展现出优异性能,但仍面临一些挑战。堆叠的nFET和pFET之间的垂直局部连接和隔离集成仍然复杂。然而,48nm栅极间距器件的成功展示为未来发展奠定了基础。
) G' R/ t; j+ Z2 E2 K) B0 v* h6 C
, H9 S3 P+ @3 @3 Q9 |& L通过持续的开发和优化,CFET能够实现逻辑技术的进一步缩放,同时保持或改善器件性能。这些器件在48nm栅极间距上的成功展示为半导体技术的创新指明了方向。, \  H) |. N. X. p, D: q
$ L* e# {$ @* e
参考文献
9 Z& P, ?1 y" C[1] S. Liao et al., "Complementary Field-Effect Transistor (CFET) Demonstration at 48nm Gate Pitch for Future Logic Technology Scaling," in 2023 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), San Francisco, CA, USA, 2023, pp. 979-983.# t. j0 s. s5 j1 r7 G! w( r
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1 X2 j! Q# p! L, X深圳逍遥科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家专注于半导体芯片设计自动化(EDA)的高科技软件公司。我们自主开发特色工艺芯片设计和仿真软件,提供成熟的设计解决方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分别针对光电芯片、微机电系统、超透镜的设计与仿真。我们提供特色工艺的半导体芯片集成电路版图、IP和PDK工程服务,广泛服务于光通讯、光计算、光量子通信和微纳光子器件领域的头部客户。逍遥科技与国内外晶圆代工厂及硅光/MEMS中试线合作,推动特色工艺半导体产业链发展,致力于为客户提供前沿技术与服务。" S8 J/ @6 q! t4 P3 [2 H4 J: d

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