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SOI平台上热光相移器设计优化与热串扰抑制技术

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发表于 2025-1-3 08:01:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
引言. j! C7 S2 o  R3 l8 h
热光相移器(TOPS)已经发展成为硅基光电子技术的基础组件,在传感、开关、高级通信和神经网络等领域有广泛应用。在硅绝缘体(SOI)平台上,这类器件具有结构紧凑、晶圆尺寸大、成本低、良率高以及兼容CMOS工艺等优势。本文探讨热光相移器的设计优化以及在SOI平台上抑制热串扰的方法[1]。! o4 K2 b8 o4 ^4 a

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. `6 @: n1 F8 |8 t0 e  r& o
  ~- R+ K0 q! [8 h/ b2 A# F$ J1: F) F5 Z0 Z  A+ n! C
热光相移器的设计基础- Q" E' s( p$ [, |7 n4 d
热光相移器的核心原理是利用热效应改变硅波导的折射率。常用的设计方法主要有两种:位于波导上方的金属加热器(通常使用TiN)和放置在波导旁边的掺杂硅加热器。每种设计都具有独特的特点和权衡因素。
& W: Q- v7 Q  E/ S: p

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5 o% c5 V$ ^8 P* p: l+ m
图1:TiN和N++ Si设计的热学和光学仿真结果,显示了温度分布、热特性、瞬态响应、光模式分布和相位变化。该图展示了不同加热器配置对器件性能的影响。4 t- C, h" Q% B
) h( e5 a( g0 n6 j" Q' J
热光相移器的效率和速度由以下关键方程决定:: g9 D: b* v7 ]

7 t8 x: `  e: m; o" HP = ΔT × G × A- Z! [' ~) d% y9 C% w5 Y# f

1 o9 {2 t/ h/ u( V8 `4 Y其中P为功率,ΔT为温度变化,G为热导率,A为面积。时间常数τ由下式给出:' ~, |+ G5 a. U1 o
$ }: x- z: u1 R8 ?. U6 r
τ = H/(G × A)
: N' s3 E3 r. ?$ M2 U% l- S6 n4 v5 c. g, l" j
其中H为加热臂的热容量。* N/ x9 Q2 a3 Q% I/ Z
% V" E' Q7 w1 Z6 A% g9 I6 T9 h, @" V
2' s- W* n; b) M( q$ y* e
优化策略7 Q; a' [( R0 E2 |' r
优化热光相移器设计需要考虑多个因素:
  • 加热器宽度:电阻元件的宽度对效率和开关速度有显著影响。4 g, J0 @5 a* p. {% I
    TiN加热器的最佳宽度约为2.5μm,而N++ Si设计每个电阻的最佳宽度为1.0μm。
  • 缓冲距离:在掺杂硅设计中,加热器与波导之间的距离(缓冲宽度)对于平衡效率和光损耗十分重要。, m+ M) Z8 w- B, }" n3 N( o8 S" C7 j% i
    [/ol]& `7 f8 H! r7 r! g9 i5 t; ^

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    * E. t# T! U! i+ B; j& g  d8 q
    图2:电阻器宽度对热光相移器性能的影响,展示了不同设计的开关功率、时间常数和性能指标。* `2 G. I; m0 ^7 _% N

    % A( o  Q! a' L( K* d/ \3 x+ h/ ?3
    - E# o* Z& H- o热串扰管理, t+ ^6 [. I, N5 `% ^  I" P
    在高密度光电子集成芯片中,相邻器件之间的热串扰是一个关键考虑因素。研究了三种主要的热隔离方法:
  • 默认氧化物包覆
  • 刻蚀氧化物区域
  • 深沟槽
    9 f5 x8 }+ i! `5 k, @2 R: x* G8 ?[/ol]4 `# K$ x1 o; U9 L2 t: ?7 E% ]# A

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    % q/ t/ T7 e; w! G1 O1 }6 P图3:受害MZI中相位变化与加热器功率的关系测量结果,展示了各种隔离技术的有效性。
    + R1 L! O/ E" d, T) T+ @9 ?8 H% [5 v1 T1 k
    4, o. _* d  _3 ]4 {2 q( j
    性能特征
    $ G4 p3 h8 b( v, N; r; d3 @  X优化后的热光相移器显示出明显的性能特征:
    4 C/ x1 P- b+ h4 Q. O

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    # a  H+ T' ?  I4 k图4:N++ Si和TiN加热器的交流测量结果,显示频率响应和时域开关行为。
    1 `. M+ j" h7 g' G% Z' [8 ^
    + `( h$ t$ j8 I! W2 P  G主要性能指标包括:
  • 开关功率(Pπ)3 o5 e' |. h$ ^; Q% N/ Q* D
    TiN设计为21.4 mW,N++ Si设计为22.8 mW
  • 时间常数; K0 s- [3 r0 J* B9 ^5 e
    TiN为5.6 μs,N++ Si为2.2 μs
  • 光损耗! y  s0 d! q) \
    两种设计均
  • 功率稳定性
    4 w& ]9 }# Y7 _: F* U% j' f0 F2 m* G10分钟内变化
    - C- r4 L0 X4 K2 n/ O[/ol]5! R" Z! j3 y, `$ E/ t# P8 o2 ~( H' @
    实际实施考虑因素
    # }6 B- k# Y9 u4 J在实际器件实施过程中,需要注意以下几个方面:
  • 温度分布$ F4 X2 }( H% F( G
    必须高效地将热量传递到波导,同时最小化横向扩散
  • 电接触4 u% d3 m+ w" i
    合适的金属化和接触设计确保可靠运行
  • 布局考虑
    ' q* a3 v, {  \. K( t器件间距必须考虑热串扰
  • 工艺兼容性
      |5 h8 o/ P( e7 ^设计应与标准CMOS制造工艺相适应; G" O9 s* Q  D6 Z, N- ~0 a5 z$ N
    [/ol]
    # G9 v) h5 Q9 s8 R

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    , C5 ~3 U0 ~- b; f
    图5:最终的加热器布局,显示TiN和N++ Si热光相移器设计的横截面和俯视图,说明了实际实施细节。9 e( Y! D5 H3 N# T0 ?4 D& h, U! s+ d

    - r6 d/ Z9 c2 t# L% `3 p6! M3 z2 o. ~+ o( b
    结论8 u5 @2 h& `2 Y7 O7 m# \* i
    热光相移器设计的优化是硅基光电子技术发展中的重要进展。TiN和N++ Si方法都提供了可行的解决方案,但N++ Si设计在具有相似功率效率的同时表现出更优越的开关速度。在不使用特殊制造技术的情况下,深沟槽技术证明是最有效的热隔离方法。; x+ E" N& \+ h2 W7 j
    : |& c8 O5 B+ @% P( R
    参考文献
    4 H4 C+ T$ b( F- \9 N" w& k* u[1] M. Jacques, A. Samani, E. El-Fiky, D. Patel, Z. Xing, and D. V. Plant, "Optimization of thermo-optic phase-shifter design and mitigation of thermal crosstalk on the SOI platform," Optics Express, vol. 27, no. 8, pp. 10456-10471, Apr. 2019.
    , x9 j/ j% o) e% s5 x# i* EEND  X  {3 T, X" e

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    ( p- q: Q5 r5 W欢迎转载: G3 s3 H& C# Q
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    转载请注明出处,请勿修改内容和删除作者信息!
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