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引言. j! C7 S2 o R3 l8 h
热光相移器(TOPS)已经发展成为硅基光电子技术的基础组件,在传感、开关、高级通信和神经网络等领域有广泛应用。在硅绝缘体(SOI)平台上,这类器件具有结构紧凑、晶圆尺寸大、成本低、良率高以及兼容CMOS工艺等优势。本文探讨热光相移器的设计优化以及在SOI平台上抑制热串扰的方法[1]。! o4 K2 b8 o4 ^4 a
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热光相移器的设计基础- Q" E' s( p$ [, |7 n4 d
热光相移器的核心原理是利用热效应改变硅波导的折射率。常用的设计方法主要有两种:位于波导上方的金属加热器(通常使用TiN)和放置在波导旁边的掺杂硅加热器。每种设计都具有独特的特点和权衡因素。
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图1:TiN和N++ Si设计的热学和光学仿真结果,显示了温度分布、热特性、瞬态响应、光模式分布和相位变化。该图展示了不同加热器配置对器件性能的影响。4 t- C, h" Q% B
) h( e5 a( g0 n6 j" Q' J
热光相移器的效率和速度由以下关键方程决定:: g9 D: b* v7 ]
7 t8 x: ` e: m; o" HP = ΔT × G × A- Z! [' ~) d% y9 C% w5 Y# f
1 o9 {2 t/ h/ u( V8 `4 Y其中P为功率,ΔT为温度变化,G为热导率,A为面积。时间常数τ由下式给出:' ~, |+ G5 a. U1 o
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τ = H/(G × A)
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其中H为加热臂的热容量。* N/ x9 Q2 a3 Q% I/ Z
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优化策略7 Q; a' [( R0 E2 |' r
优化热光相移器设计需要考虑多个因素:加热器宽度:电阻元件的宽度对效率和开关速度有显著影响。4 g, J0 @5 a* p. {% I
TiN加热器的最佳宽度约为2.5μm,而N++ Si设计每个电阻的最佳宽度为1.0μm。缓冲距离:在掺杂硅设计中,加热器与波导之间的距离(缓冲宽度)对于平衡效率和光损耗十分重要。, m+ M) Z8 w- B, }" n3 N( o8 S" C7 j% i
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图2:电阻器宽度对热光相移器性能的影响,展示了不同设计的开关功率、时间常数和性能指标。* `2 G. I; m0 ^7 _% N
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- E# o* Z& H- o热串扰管理, t+ ^6 [. I, N5 `% ^ I" P
在高密度光电子集成芯片中,相邻器件之间的热串扰是一个关键考虑因素。研究了三种主要的热隔离方法:默认氧化物包覆刻蚀氧化物区域深沟槽
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% q/ t/ T7 e; w! G1 O1 }6 P图3:受害MZI中相位变化与加热器功率的关系测量结果,展示了各种隔离技术的有效性。
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性能特征
$ G4 p3 h8 b( v, N; r; d3 @ X优化后的热光相移器显示出明显的性能特征:
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# a H+ T' ? I4 k图4:N++ Si和TiN加热器的交流测量结果,显示频率响应和时域开关行为。
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+ `( h$ t$ j8 I! W2 P G主要性能指标包括:开关功率(Pπ):3 o5 e' |. h$ ^; Q% N/ Q* D
TiN设计为21.4 mW,N++ Si设计为22.8 mW时间常数:; K0 s- [3 r0 J* B9 ^5 e
TiN为5.6 μs,N++ Si为2.2 μs光损耗:! y s0 d! q) \
两种设计均功率稳定性:
4 w& ]9 }# Y7 _: F* U% j' f0 F2 m* G10分钟内变化
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实际实施考虑因素
# }6 B- k# Y9 u4 J在实际器件实施过程中,需要注意以下几个方面:温度分布:$ F4 X2 }( H% F( G
必须高效地将热量传递到波导,同时最小化横向扩散电接触:4 u% d3 m+ w" i
合适的金属化和接触设计确保可靠运行布局考虑:
' q* a3 v, { \. K( t器件间距必须考虑热串扰工艺兼容性:
|5 h8 o/ P( e7 ^设计应与标准CMOS制造工艺相适应; G" O9 s* Q D6 Z, N- ~0 a5 z$ N
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图5:最终的加热器布局,显示TiN和N++ Si热光相移器设计的横截面和俯视图,说明了实际实施细节。9 e( Y! D5 H3 N# T0 ?4 D& h, U! s+ d
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结论8 u5 @2 h& `2 Y7 O7 m# \* i
热光相移器设计的优化是硅基光电子技术发展中的重要进展。TiN和N++ Si方法都提供了可行的解决方案,但N++ Si设计在具有相似功率效率的同时表现出更优越的开关速度。在不使用特殊制造技术的情况下,深沟槽技术证明是最有效的热隔离方法。; x+ E" N& \+ h2 W7 j
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参考文献
4 H4 C+ T$ b( F- \9 N" w& k* u[1] M. Jacques, A. Samani, E. El-Fiky, D. Patel, Z. Xing, and D. V. Plant, "Optimization of thermo-optic phase-shifter design and mitigation of thermal crosstalk on the SOI platform," Optics Express, vol. 27, no. 8, pp. 10456-10471, Apr. 2019.
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