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IEEE MEMS2025 | MEMS陀螺仪温度性能研究及分析

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发表于 2025-2-19 08:00:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
引言
3 l7 C- s7 X5 T/ c# V, wMEMS陀螺仪在消费电子和汽车系统等多个领域获得广泛应用。这类器件通过检测旋转物体运动时产生的科里奥利力来测量角速度。MEMS陀螺仪设计中的主要挑战之一是管理温度引起的漂移,特别是零速率输出(ZRO)的漂移。本文探讨温度对陀螺仪性能的影响机理,并讨论包括自动正交补偿(AQC)在内的解决方案[1]。6 {; u4 ^* S$ V" A

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图1展示了尺寸为(3.8x2.2)mm2的线性四质量传感器及其驱动和检测模式。该器件在工作时的频率约为30.7 kHz,分频400 Hz。驱动模式和检测模式的品质因数分别为6000和1300。
  m: m$ z% u( D7 e# @1 e" u; {# M
+ b$ R- H$ a1 F; K1
* V! \0 H3 ]5 |2 N% z& M基本工作原理; q# B- h( Q1 O8 o4 P/ G
幅度调制MEMS陀螺仪的工作原理依赖于驱动模式和检测模式之间的相互作用。当系统旋转时,驱动运动在检测轴上产生表观力。电子线路随后检测检测框架的位移。输出信号经过解调和滤波以提取速率信息。在理想条件下,解调参考信号的相位和频率与检测信号完全匹配。
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5 g( a2 R6 x$ c. |5 n
图2显示了用于驱动控制、检测读出、解调和可选AQC实现的混合信号电子系统的框图和实物实现。/ e8 ]' V( G4 O  g) V8 X) L
; d: T0 ^& N& C- d. w
2( |! O, U* F! z- a  e8 L
温度效应和测量方法
0 C3 `4 \6 p( e* P' b研究温度对陀螺仪性能的影响需要仔细测量几个关键参数。测量设置主要关注三个方面:正交分量机械驱动频率传递ZRO输出。这些测量在有无AQC正交补偿的情况下都进行。
) X6 M/ B, r2 X! r

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- K/ \# Y& p& G: y  F$ Q图3演示了正交分量的提取方法,显示在禁用正交补偿机制时ZRO如何随解调相位误差变化。
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0 t- U3 d* x0 [! M
图4展示了不同温度下正交提取的结果,显示了同一器件在四次重复温度循环中的平均测量值。
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3 K* ?5 E+ |/ l3
: I' t, H6 J/ j' i性能分析和建模7 v; T, Q5 l& v  [, }
温度效应分析涉及系统的机械和电气方面。驱动频率显示出明显的温度依赖性,这影响着系统的整体性能。开环驱动传递函数提供了温度如何影响系统行为的重要信息。: U- d  _# I( _/ J

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$ B. W6 o) L0 D% V
图5显示了不同温度条件下的开环驱动传递函数幅度和相位,揭示了由寄生电容引起的反峰值,该电容随温度变化。% E. b' k3 S$ g1 Y( X
+ b5 J! ^$ @1 }$ R6 v+ D

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4 f/ I* r- F8 F" c! B! {7 n
图6显示了机械驱动频率随温度的变化,测量结果与文献中的理论预测相符。" m7 Z6 O7 A# b4 t, o
' V! y7 ~5 Z; j1 b
42 ]" g% F9 W' H* E( a# y
结果和验证
% k- |! W2 N  R6 U- E- H  ^实验结果验证了理论模型对启用和禁用AQC配置的预测。测量结果表明,根据工作架构的不同,漂移机制也不相同。. Q) o( W% }7 a0 I. i* W

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图7展示了禁用AQC时四次温度扫描的平均值,显示开发的模型预测实验结果的误差在30%以内。9 K# E4 h! i, D5 f' @5 M

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; k' X/ G# {6 C) y4 }6 _0 v$ D/ L图8显示了启用AQC时四次温度扫描的平均输出,展示了正交补偿如何影响系统的温度响应。
- w$ {& ]( {2 S/ _6 U2 I: j7 ?7 J; Q/ U, o
5
7 e: g" j$ T+ d3 Y  s5 E9 T结论
& \8 h# X6 h" K, W) b对MEMS陀螺仪温度效应的综合分析揭示了理解和补偿热漂移的重要性。该模型通过考虑正交行为和寄生效应,成功预测了输出变化。AQC的实施在减少温度引起的漂移方面效果显著,尽管由于相位误差和灵敏度波动仍存在一些残余效应。这种理解有助于改进陀螺仪在不同温度条件下的性能。
6 K+ `) z- E% Q. h* \# {+ @4 D& s5 _- y
实验验证证实,数学模型能以合理的精度预测输出变化,这对消费级传感器和高端应用都具有实用价值。这些发现有助于开发更稳定、更可靠的MEMS陀螺仪系统。
% Q) [; x, v# z+ E' M9 R2 w; g- ~7 k/ i
参考文献, F% E& j; U4 V; ]& v& U+ K
[1] L. Pileri, M. De Pace, G. Gattere, L. Falorni and G. Langfelder, "Modeling ZRO Temperature Drifts in Gyroscopes With and Without Automatic Quadrature Compensation," in IEEE MEMS 2025, Kaohsiung, Taiwan, 19-23 January 2025, pp. 32-35.; J' A- s- E8 Q" ]- o+ v
END
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* n! y8 Y  O6 E, x4 D! i转载请注明出处,请勿修改内容和删除作者信息!8 y1 ^7 _% E. [/ C+ m& j
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关于我们:1 ^8 V! f( |4 o( G
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